Control de plataforma de degradación acelerada de transistores de potencia
31 Julio 2020 - Google Meet | UNC
Defensa de Trabajo Especial de la Licenciatura en Ciencias de la Computación
El objetivo del presente trabajo es desarrollar una plataforma para acelerar, automatizar y emular el proceso de degradación al que se somete un transistor de efecto de campo metal-óxido-semiconductor (MOSFET) de potencia en un aparato de Resonancia Magnética Nuclear por ciclado rápido de campo (RMN-FFC). Este sistema debe ser capaz de controlar la degradación del transistor; analizar las condiciones de destrucción y reaccionar a ellas; observar los parámetros de funcionamiento durante los ensayos mediante gráficos y almacenar toda la información en una base de datos local.